Séminaire Captronic : Le contrôle des composants électroniques

18/09/2012

de 13h45 à 17h45 à THESAME ‐ 20 Avenue du Parmelan ‐ 74000 Annecy

Intervenants : Michel ROSSO et Ghislain HAZARD – DELTEST

Séminaire gratuit, inscription obligatoire.
Date limite d’inscription : 14 septembre 2012

Programme et bulletin d'inscription à télécharger ici.

La technologie électronique est caractérisée par une augmentation de la complexité et des difficultés pour satisfaire les exigences de qualité et de robustesse tout en ayant comme objectifs un besoin de réduire le coût et le temps de développement.

C’est pourquoi, en fonction de la complexité du système, on observe un besoin de plus en plus important de recourir à la réparation de cartes défectueuses plutôt qu’au changement du système complet. Ceci s’explique par :

  • la difficulté d’intégrer un nouveau système dans un environnement industriel contraignant
  • le coût lié au changement du système complet (arrêt de production, gestion des interfaces, re-conception,…)
  • la problématique du composant obsolète

Ce séminaire a pour objectifs de répondre à :

  • la localisation de la panne sur une carte défectueuse
  • la validation de la conformité du composant avant montage

PROGRAMME

• 13h45 : Accueil des participants

• 14h00-16h00 : Présentation

  • le test sur carte et hors carte
  • le principe de l’état forcé,
  • norme de référence le test fonctionnel
  • le test par analyse V/I
  • la conformité des composants et la disparité de lot

• 16h00 : Démonstrations

• 17H00 : Questions / Réponses Rafraichissements

Le séminaire sera animé par Michel ROSSO et Ghislain HAZARD – Société DELTEST

Contact : vidal@captronic.fr

Site :

http://www.captronic.fr/Le-controle-des-composants,666.html

Document :

semtest180912_v1.pdf

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